Esta cámara de prueba es adecuada para la investigación de prueba de vida de componentes eléctricos y electrónicos, conjuntos de placas de circuito impreso, etc. Al aplicar un esfuerzo único o integral, incluido un paso de alta temperatura, un paso de baja temperatura, un ciclo de cambio rápido de temperatura y una vibración aleatoria de banda ancha no gaussiana de seis grados de libertad, a estas piezas de prueba, el estrés se incrementa gradualmente para determinar el límite de estrés que puede soportar. Esto ayuda a identificar rápidamente los defectos del producto y mejorarlos durante las etapas de I + D, dise?o, producción de prueba y producción en masa, acortando el tiempo de I + D y logrando el objetivo de lanzamiento rápido al mismo tiempo que garantiza la calidad del producto.
| Nombre del producto | 
Cámara de prueba de vida alta acelerada (cámara HALT) | 
| Modelo de producto | 
HALT101-GT900 | 
HALT102-GT1200 | 
| Volumen del estudio | 
1.1/1.5 m3 | 
1,8/2,3 m3 | 
Tama?o del estudio 
(milímetros) | 
W | 
1070 | 
1370 | 
| H | 
970/1270 | 
970/1270 | 
| D | 
1070 | 
1370 | 
Dimensiones exteriores 
(milímetros) | 
W | 
1780 | 
2100 | 
| H | 
3064 | 
3064 | 
| D | 
1400 | 
1700 | 
| Rango de Temperatura | 
-100~+200℃ | 
| Fluctuaciones de temperatura | 
≤±1 ℃ (tiempo de estabilización en 2 minutos) | 
| Precisión del control de temperatura | 
±1℃ | 
| Tasa de calentamiento/enfriamiento | 
≥70℃/min | 
| Vibración | 
Tres ejes y seis grados de libertad | 
| Plataforma de vibración (mm) | 
910 × 910 (ancho × profundidad) | 
1213 × 1213 (ancho × profundidad) | 
| Valor de aceleración | 
1~75Grms, ajustable | 
| Frecuencia de vibración | 
2 ~ 10000Hz; 5 ~ 4000Hz (90% zona de energía) |