La cámara de prueba HAST es adecuada para la industria de chips de semiconductores, así como componentes electrónicos, piezas, circuitos integrados, materiales y procesos en aviación, aeroespacial, armas, barcos, industria nuclear, instituciones de investigación científica, universidades y otros campos. Confirma si la falla funcional ocurre debido a la durabilidad (vida útil) o a cambios ambientales mediante ciclos acelerados de alta temperatura, alta humedad, alta presión y pruebas constantes.
| Nombre del producto | 
Cámara de prueba de alta tensión acelerada (cámara HAST) | 
| Modelo de producto | 
HPSC251-M | 
El HPSC252-M | 
| Volumen del estudio | 
51L | 
51 L × 2 tanques | 
| Tama?o del estudio | 
φ380×D450 (R×D) | 
φ380 × D450 (R × D) × 2 tanques | 
| Tama?o del tanque de almacenamiento | 
φ450×D600(R×D) | 
φ450 × D600 (R × D) × 2 tanques | 
| Dimensiones exteriores | 
1200 × 1960 × 1140 mm (ancho × altura × profundidad) | 
1200 × 2170 × 1140 mm (ancho × altura × profundidad) | 
| Rango de Temperatura | 
105℃~150℃ | 
| Fluctuaciones de temperatura | 
≤±0.5℃ | 
| Uniformidad de la temperatura | 
≤2℃ | 
| Desviación de temperatura | 
±2℃ | 
| Rango de presión | 
110kPa ~ 300kPa (presión absoluta) |