HAST試驗箱適用于半導體芯片行業,以及航空、航天、兵器、船舶、核工業、科研機構、高等院校等領域的電子元器件、零部件、集成電路、材料、工藝。它通過加速高溫、高濕、高壓循環和不斷測試,確認功能失效是由于耐久性(壽命)還是環境變化而發生。
| 產品名稱 | 
高壓加速老化試驗箱(HAST) | 
| 產品型號 | 
HPSC251-M | 
HPSC252-M | 
| 工作室容積 | 
51L | 
51 L × 2罐 | 
| 工作室尺寸 | 
φ 380 × D450(R × D) | 
φ 380 × D450(R × D)× 2罐 | 
| 儲罐尺寸 | 
φ 450 × D600(R × D) | 
φ 450 × D600(R × D)× 2罐 | 
| 外部尺寸 | 
1200 × 1960 × 1140毫米(寬×高×深) | 
1200 × 2170 × 1140毫米(寬×高×深) | 
| 溫度范圍 | 
105℃~150℃ | 
| 溫度波動 | 
≤±0.5℃ | 
| 溫度均勻性 | 
≤2℃ | 
| 溫度偏差 | 
±2℃ | 
| 壓力范圍 | 
110kPa~300kPa(絕對壓力) |